クロマトグラフィー法の一つで，狭い流路内の流体の速度勾配と外力を利用して，粒子径分布を測定する手法である。分離力ラムには，充填剤が全く入っていない，厚さ数百 µm，幅数 cm の矩形断面流路を用いる。この点が他のクロマトグラフィー法（HDC法，SEC法）と異なる。そのため粒子の分画分離を実現するために流路の厚さ方向に外力を加える必要がある。重力，遠心力，流体の二次流れ，温度勾配などが外力として使用される。一つの装置で測定可能な粒子径範囲は 1 桁程度であり，外力に応じて変化する。前述の外力の順に測定可能な粒子径範囲は数十 µm から数 nm へと小さくなる。外力によって流路壁近傍に濃縮された粒子径の大きい粒子の移動速度は，流体速度の速い流路中心部にまで広がった小さい粒子より小さい。このため小さい粒子から順に流出することになる。分離カラムの後ろにつけた検出器でその量を測定することで，粒子径分布を算出する。なお粒子径が分離カラムの厚さの 1 % 程度になると，粒子径が大きいほど速く流出するようになる。これは HDC 法と同じ分離原理に基づいている。また磁場や電場を外力とした FFF も試みられている。