光が粒子群でさえぎられたとき，前方から側方にかけて光が散乱・回折し，明部と暗部が交互に現われる散乱パターンを形成する。粒子径が大きくなるほど，散乱パターンは前方のごく狭い角度領域（小角領域）で生じる。小角散乱法は，この散乱パターンから粒子径を推定する手法である。近年はこの手法を包含したレーザー回折・散乱法が粒子径分布測定法としてよく使用されている。可視光線の代わりに X 線を使用した小角散乱法は小角 X 線散乱法（Small Angle X-ray Scattering, SAXS）と呼ばれ，数 nm から数十 nm の粒子径測定に応用される。

→　レーザー回折・散乱法