沈降法の一つで，光透過法と同様の原理であるが，光線の代わりにX線を使用する。粒子径に比較してX線の波長が極端に短いため，光透過法で問題となる吸光係数（吸収係数）の粒子径依存性を考慮する必要がない。このため沈降法の原理に比較的忠実な測定手法といえる。粒子懸濁液重量濃度 $C$ と透過X線量 $I$ には，ランバート•ベアの法則が成立する。 $$ I \varpropto \exp \left( -kC \right) $$ ここで，$k$ は粒子の吸収係数であり，試料物質のみに依存する。
　増分形均一分散法の場合，測定開始時の全粒子に対する透過X線量を $I_{100}$ とすれば，ふるい（篩）下重量基準粒子径分布は次式で求まる。 $$ Q_{3}=\ln\left(\frac{I_{100}}{I}\right) $$ 　X線は透過性が高い（吸収係数が小さい）ため，懸濁粒子濃度を $10\ wt.\%$ 程度と高くする必要がある。高濃度スラリーなどはそのままの濃度で粒子径を測定できるという長所の反面，干渉沈降の影響を考慮する必要がある。また炭素以下の軽元素（カーボンブラック，グラファイト）やその化合物（高分子，窒化ホウ素）などの測定はきわめて困難である。

→　 沈降法， 光透過法